JRLテックログ

JRLテックログ

ジャパン・リサーチ・ラボが提供する技術コンサルティング、人材育成、戦略策定、セミナー等の様々なコンテンツに関する情報を提供するブログです

2017-10-24から1日間の記事一覧

表面分析手法の分類

表面分析に分類されるものは極めて多種多様な分析手法が存在します。下表では、代表的な表面分析である、X線光電子分光法(XPS、ESCA)、オージェ電子分光法(AES)、2次イオン質量分析法(SIMS,TOF-SIMS)、電子線微小部分析法(…