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表面分析手法の分類

 

  表面分析に分類されるものは極めて多種多様な分析手法が存在します。下表では、代表的な表面分析である、X線光電子分光法(XPS、ESCA)、オージェ電子分光法(AES)、2次イオン質量分析法(SIMS,TOF-SIMS)、電子線微小部分析法(EPMA)、走査電子顕微鏡(SEM)、走査型プローブ顕微鏡(SPM、AFM他)、レーザーラマン分光法、フーリエ変換赤外分光法(FT-IR)、接触角法の特徴などを示しています。

 

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 一見すると、数多くの分析法が存在するということは便利なように感じられます。確かに、その通りではあるのですが、別の側面から見れば、それほどたくさんある選択肢の中から最適なものを選び出す必要があります。特に、表面分析のように様々な分析方法がある場合には、類似した分析方法というものも出てきます。そのような場合は特に、その類似した中でそれぞれの特徴と自分の目的とを照らし合わせて適切な選択をすることが必要になってきます。

 

 対象とする表面の領域(深さ)、必要な情報(元素組成、化学構造、形状など)、検出感度、測定領域の面積などを予め明確に決めた上でそれぞれの分析方法の特徴を踏まえて選択していかなければなりません。また、対象物が有機物か無機物か、言い換えるなら、導体か不導体かでその選択に制限が出てきます。これらのことについて、十分に検討した上で分析方法を選択し、分析を開始しなければ、必要な情報が得られないばかりか、場合によっては誤った情報を元に判断を下してしまう恐れすらあります。

 

 もちろん、最初の段階では対象とする深さや必要な情報がどんなものであるのか、確定できないことも少なからずあるでしょう。しかし、そのような場合にこそ別項でも述べているように、ゴールの設定と仮説の構築、そして、実験フローの検討が重要になるのです。分析とは、基本的に仮説の検証のために行われるものです。したがって、仮説無しに分析を行ってもそこから重要な情報や結論を得ることはできません。

 

より詳しくは、

analysis.ikaduchi.com

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